服務電話：18952401854
主營產品：
OUMIT金相顯微鏡，蘇州體視顯微鏡、蘇州視頻顯微鏡、蘇州歐米特，昆山拍照顯微鏡，測量顯微鏡，工具顯微鏡，吳江三維顯微鏡，同軸光顯微鏡，蘇州金相顯微鏡、無錫生物顯微鏡、偏光顯微鏡、投影儀、測量顯微鏡、二次元、三次元，工業相機VGA，視頻顯微鏡，
文章詳情
熒光觀察法
日期：2025-11-18 07:51
瀏覽次數：2037
摘要：
熒光觀察法
半導體晶圓上的顆粒
該項技術適用于觀察那些在受到專門設計的濾鏡（可以按照檢測需要制作）照明時會發出熒光（發出不同波長的光線）的樣本。該方法通過熒光染色，應用于觀測半導體晶圓表面的污物、抗蝕劑的殘渣和裂痕的檢測。可以添加選購的復消色差光源聚光透鏡系統，從而為可見光到近紅外線范圍內的色差進行補償。 
