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IR（紅外線）觀察法
日期：2025-11-16 15:15
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摘要：
IR（紅外線）觀察法
硅晶片層下的半導體電路
對使用了硅片、玻璃等易透射紅外線的電子設備的內部進行無損檢測時，IR 觀察十分有效。IR 物鏡也可用于近紅外線技術，如：拉曼光譜儀和YGA 激光修復應用。
